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美國熱電發(fā)布X系列Ⅱ代ICP-MS (2005-01-27)

發(fā)布時間:2007-12-04 作者: 來源:儀器信息網(wǎng) 瀏覽:1003
來自美國熱電集團的消息:該公司將在匈牙利布達佩斯召開的“European Winter Plasma Conference 2005(1月30日~2月3日)”上首次展示該公司X系列Ⅱ代ICP-MS。 XⅡ采用了全新的離子提取系統(tǒng),從而獲得了四極桿ICP-MS技術(shù)更低的檢出限。同時,XⅡ另一個創(chuàng)新點是它的離子光學(xué)設(shè)計,具有保護離子提取功能。這一設(shè)計極大降低了空白背景,再加上熱電公司的第三代離子碰撞池技術(shù),使得該型儀器的干擾消除能力得到了進一步提高。 據(jù)熱電集團相關(guān)人士介紹:XⅡ的錐形接口既保持了XⅠ在分析方面的優(yōu)勢傳統(tǒng),同時又改善對基體效應(yīng)的容許能力,降低了用戶對儀器維護的要求,開創(chuàng)性的接口設(shè)計同離子光學(xué)設(shè)計使得用戶無需在高真空環(huán)境下清洗和更換部件。
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