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掃描電子顯微鏡及X-射線能譜儀投入使用 (2004-09-06)

發(fā)布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:1898
安鋼廣大科技工作者期盼已久的掃描電子顯微鏡和Ⅹ-射線能譜儀,于今年6月份在技術(shù)中心試驗室一次安裝調(diào)試成功后,現(xiàn)已順利通過了考核驗收并投入正常使用。 掃描電子顯微鏡是應(yīng)用于材料分析科學(xué)的一種最先進(jìn)的電子光學(xué)儀器,它具有制樣簡單、放大倍率連續(xù)可調(diào)、景深大、襯度高、高清晰度掃描圖像等優(yōu)點,已成為材料科學(xué)研究所不可缺少的一種高性能儀器。它利用入射電子束與試樣作用產(chǎn)生的各種電子信號并結(jié)合X-射線能譜儀,可以對各種材料進(jìn)行形貌組織觀察和微區(qū)成分分析、金屬材料斷口分析和失效分析等。 我公司從荷蘭菲利浦公司購進(jìn)的Quanta200掃描電子顯微鏡和從英國牛津公司購進(jìn)的INCAX-射線能譜儀,具有啟動快、大樣品室、高分辨率、高放大倍數(shù)、高低真空和環(huán)境真空成像模式等性能。兩臺顯微分析儀器的順利投入使用,必將成為公司在品種開發(fā)、工藝研究和質(zhì)量攻關(guān)等科研活動中不可缺少的工具。
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