為隆重紀念米定義40周年，8月16至18日，中國計量測試學會幾何量專業(yè)委員會技術學術交流會暨換屆工作會在云南大理順利召開。

中國科學院院士王立鼎，中國計量測試學會相關領導，中國計量科學研究院（以下簡稱“中國計量院”）相關部門負責人以及來自全國計量機構、高等院校、科研院所和企業(yè)的160多名代表參加會議。

幾何量專業(yè)委員會秘書長、中國計量院研究員李建雙主持會議開幕式。王立鼎院士在開幕式致辭中結合自身工作經歷，總結了幾何量技術在先進制造領域的發(fā)展與作用，勉勵科技工作者瞄準國家戰(zhàn)略需求，潛心鉆研，為促進幾何量科技發(fā)展作出貢獻。

王立鼎院士致辭

第七屆幾何量專業(yè)委員會主任委員、中國計量院研究員高思田在致辭中回顧了米定義40年來幾何量領域技術學術取得的長足發(fā)展，展望了幾何量計量新技術的發(fā)展趨勢，希望參會代表們踴躍交流、深入探討、有所收獲。

在學術交流環(huán)節(jié)，中國計量院研究員吳金杰以“從米制到米智——米定義演進與智能化”為題作紀念米定義40周年主題報告。他回溯了“米制”前的長度單位演變、米制的建立與演進、我國在米定義方面的貢獻及我國米基準、幾何量計量基標準的發(fā)展歷程。報告提出，應加強“米”的扁平化、數(shù)字化、智能化和網絡化研究，使其與產業(yè)深度融合，推動幾何量計量從“米制”向“米智”發(fā)展。

來自中國計量院、西安交通大學、中國科學院微電子研究所、天津大學、上海理工大學、浙江理工大學、中國航空工業(yè)集團北京長城計量測試技術研究所等單位的代表，分別從米定義復現(xiàn)方法、納米探針、集成電路檢測、光學顯微干涉、光學陀螺測角、大尺寸絕對測距、線紋測量及光學掃描測量等方向進行了系列報告。

會議現(xiàn)場學術氛圍濃厚，報告內容豐富。與會代表提問互動熱烈，就涉及的幾何量計量測試技術展開了廣泛熱烈的討論。

會議選舉產生了第八屆幾何量專業(yè)委員會主任委員、副主任委員、秘書長等。此次大會由中國計量測試學會幾何量專業(yè)委員會主辦，云南省計量測試技術研究院承辦。（文/圖：李建雙、繆東晶）