中國計量網(wǎng) http://etvsebi.cn/
中國計量網(wǎng)——計量行業(yè)門戶網(wǎng)站
計量資訊速遞
您當前的位置: 首頁 > 新聞 > 綜合資訊

工作人員起訴英特爾過量輻射致其殘疾

發(fā)布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:1491

      據(jù)國外媒體報道,技術(shù)人員Mark Scheer日前起訴英特爾,要求對其在工作期間致殘進行賠償。

  據(jù)英國媒體報道,Scheer曾在英特爾的Hillsboro工廠工作過一段時間,負責檢修HDP設(shè)備。據(jù)斯凱爾稱,由于英特爾并未維護好HDP,從而導致他遭受過量的微波輻射。

  該事件發(fā)生在2005年,并導致Scheer頭部和智力受到傷害,雙眼白內(nèi)障,并失明。日前,Scheer要求英格爾承擔其過去和將來的醫(yī)藥費,并對他的殘疾和失去收入源進行賠償。(n102)

 


 

分享到:
通知 點擊查看 點擊查看
公告 征訂通知 征訂通知
會員注冊
已有賬號,
會員登陸
完善信息
找回密碼